上海德國(guó)進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng) 誠(chéng)信為本 上海明策供應(yīng)

OPO望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)是一套用于測(cè)試光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的模塊化多功能測(cè)試系統(tǒng)，OPO測(cè)試系統(tǒng)支持一系列重要參數(shù)的測(cè)試:分辨率，MTF(軸上，離軸)，放大率，畸變，視場(chǎng)，透過(guò)率，漸暈，出瞳距離，出瞳直徑，屈光度范圍，視差等。被測(cè)望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)可以由這些參數(shù)來(lái)表征其性能。OPO測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的生產(chǎn)商，采購(gòu)商或者維修站來(lái)說(shuō)都是比較好的測(cè)試工具。OPO系統(tǒng)是人工由操作計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的概念建立的，該系統(tǒng)可以對(duì)被測(cè)望遠(yuǎn)鏡瞄準(zhǔn)具生成的參考圖像進(jìn)行分析。簡(jiǎn)單的手工操作設(shè)計(jì)理念，模塊化設(shè)計(jì)，可靠性高，使用壽命長(zhǎng)。INFRAMET LAFT 熱成像光電測(cè)試系 統(tǒng)助力科研，精細(xì)測(cè)量技術(shù)參數(shù)無(wú)憂(yōu)。上海德國(guó)進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng)

TAIM可以對(duì)不超過(guò)120mm的光學(xué)瞄準(zhǔn)鏡和熱夾鉗提供擴(kuò)展的測(cè)試和視線(xiàn)。可以使用對(duì)從電子輸出捕獲的圖像或從被測(cè)設(shè)備的顯示器捕獲的圖像進(jìn)行分析來(lái)執(zhí)行測(cè)試。

總測(cè)試功能:1.蕞小可分辨溫差MRTD測(cè)量2.圖像偏轉(zhuǎn)角度和熱像儀夾像旋轉(zhuǎn)測(cè)量3.屈光度調(diào)節(jié)范圍、目鏡度數(shù)和屈光度刻度精度測(cè)量4.在電子輸出和光學(xué)輸出（顯示器）上測(cè)量MTF，NETD，F(xiàn)PN，非均勻性，F(xiàn)OV，失真，放大倍數(shù)。注意：噪聲參數(shù)只在電子輸出端測(cè)量。

選配：1.檢查從無(wú)限遠(yuǎn)對(duì)焦到短距離對(duì)焦是否有圖像偏移 上海德國(guó)進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng)光電技術(shù)，應(yīng)用于教育領(lǐng)域，提升實(shí)驗(yàn)教學(xué)質(zhì)量。

在國(guó)際市場(chǎng)提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優(yōu)化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標(biāo)：約1μm至約15μm。這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過(guò)溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來(lái)實(shí)現(xiàn)。由于這種黑體的發(fā)射率在波長(zhǎng)約0.1mm處開(kāi)始下降，并且在波長(zhǎng)超過(guò)約1mm變得非常低，所以典型的面源黑體不能用于模擬THz帶（0.1mm至1mm）和亞THz帶（1mm至10mm的波長(zhǎng)）的黑體目標(biāo)溫度。在典型的紅外黑體中使用的高輻射率涂層對(duì)于太赫茲光學(xué)輻射而言變得部分半透明，特別是在長(zhǎng)波處大約0.5mm。由于以下幾個(gè)原因，太赫茲區(qū)域黑體的設(shè)計(jì)是一個(gè)技術(shù)挑戰(zhàn)：a）需要THz/短波頻譜帶中高吸收率涂層的發(fā)射體以確保高發(fā)射率；b）由于THz/微波成像儀的低分辨率，所以需要大面積的黑體；c）需要很高的溫度均勻性、溫度穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度，以便能夠?qū)Hz/微波傳感器進(jìn)行準(zhǔn)確校準(zhǔn)。

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類(lèi):1)無(wú)源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無(wú)源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無(wú)源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。這些標(biāo)準(zhǔn)的小尺寸靶標(biāo)作為Inframet制造的大型模塊化測(cè)試系統(tǒng)(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標(biāo)是通過(guò)其自身的熱輻射或由人造光源發(fā)出的反射光創(chuàng)建參考圖案。這些目標(biāo)通常是大型的單獨(dú)模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測(cè)光電成像儀可直接看到有源靶標(biāo)。這些靶標(biāo)用于測(cè)試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機(jī)分辨率靶標(biāo)的流行解決方案。FUT系列靶標(biāo)是有源靶標(biāo)，通常用于測(cè)試融合成像系統(tǒng)或熱像儀。經(jīng)典熱圖像與可見(jiàn)光圖像的融合成像系統(tǒng)擁有更強(qiáng)的監(jiān)視能力。融合系統(tǒng)通常使用一個(gè)多傳感器成像系統(tǒng)，由一個(gè)熱像儀和一個(gè)可見(jiàn)光相機(jī)(或夜視設(shè)備和可見(jiàn)光相機(jī))組成，圖像的融合可以采用光學(xué)方法或數(shù)字圖像處理方法。光電技術(shù)，為智能交通系統(tǒng)提供可靠信號(hào)檢測(cè)。

一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴(kuò)展到SWIR的光源或者M(jìn)TB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標(biāo)也可用于測(cè)量。測(cè)量成像整機(jī)系統(tǒng)軸校準(zhǔn)：電控的測(cè)試系統(tǒng)生成由被測(cè)試熱像儀及相機(jī)生成的圖像并計(jì)算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場(chǎng)下的光軸；b)相機(jī)在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機(jī)之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對(duì)準(zhǔn)：計(jì)算機(jī)控制的測(cè)量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計(jì)算光軸間的夾角：激光光軸（激光測(cè)距儀，激光指示器，激光照射器等）相對(duì)于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進(jìn)行激光測(cè)距儀發(fā)射光軸的校準(zhǔn)。這里假定激光測(cè)距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測(cè)量激光測(cè)距儀的光軸對(duì)MS系統(tǒng)軸的能力。測(cè)量SWIR相機(jī)：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來(lái)測(cè)量SIWR相機(jī)。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標(biāo)；測(cè)量不同圖像格式的熱像儀：當(dāng)采用模擬視頻采集卡并且測(cè)量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時(shí)；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測(cè)量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。光電測(cè)試系統(tǒng)，保障新能源汽車(chē)電池**。上海光電測(cè)試系統(tǒng)作用

Inframet NVS 夜視設(shè)備多功能測(cè)試 系統(tǒng)，助力航空航天器熱防護(hù)系統(tǒng)測(cè)試。上海德國(guó)進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng)

UHT系列黑體是高溫，腔式黑體，溫度范圍1550℃。黑體的特點(diǎn)在于發(fā)射腔的25mm的較大孔徑。黑體發(fā)射體是使用底端封閉圓筒腔體的概念設(shè)計(jì)的?？梢栽?.2μm至超過(guò)200μm（可至500μm）的超寬光譜范圍內(nèi)中提供高發(fā)射率。這種超寬譜帶使得可以將UHT黑體作為UV、可見(jiàn)光、紅外波段和THz波段的標(biāo)準(zhǔn)輻射源。UHT黑體可以直接從內(nèi)部鍵盤(pán)控制，也可以使用標(biāo)準(zhǔn)USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。

主要特性

25mm的較大孔徑；

提供從0.2到超過(guò)200的高發(fā)射率；

可以?xún)?nèi)部鍵盤(pán)控制，也可以使用USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。 上海德國(guó)進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng)