2025-06-02 05:03:27
作為電子可靠性測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)先鋒，維柯科技深耕SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試與TCT低阻測(cè)試領(lǐng)域逾十年，以“全場(chǎng)景覆蓋、全精度適配”的產(chǎn)品矩陣，為半導(dǎo)體、PCB、新能源等行業(yè)提供一站式測(cè)控解決方案。,SIR/CAF系統(tǒng)：高阻世界的洞察者搭載16通道**模塊化架構(gòu)，支持256通道大規(guī)模并行測(cè)試，單通道配備超微型電流表，精細(xì)捕捉1pA級(jí)微弱電流，電阻測(cè)量范圍達(dá)1×10?Ω-1×10??Ω，精度比較高至±2%（1×10?-1×10?Ω區(qū)間）。5000V超高壓輸出能力（可選配外電源）適配嚴(yán)苛工況，搭配溫濕度實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與失效智能預(yù)警，實(shí)時(shí)繪制電阻曲線并生成專(zhuān)業(yè)報(bào)表，精細(xì)定位絕緣失效與導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）風(fēng)險(xiǎn)，為**電路可靠性驗(yàn)證筑牢防線。 高阻值電阻測(cè)試時(shí)，需特別注意靜電防護(hù)，避免損壞元件。廣州SIR和CAF電阻測(cè)試市場(chǎng)
絕緣不良是電氣設(shè)備失效和**事故的常見(jiàn)原因。廣州維柯信息技術(shù)有限公司深知這一點(diǎn)，因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)，專(zhuān)注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長(zhǎng)時(shí)間使用或特定環(huán)境下可能會(huì)老化，導(dǎo)致表面電阻下降，進(jìn)而影響整個(gè)系統(tǒng)的**性。通過(guò)定期進(jìn)行SIR測(cè)試，可以早期發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題，及時(shí)采取措施，避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測(cè)試系統(tǒng)，以其高度的自動(dòng)化和智能化，能夠在各種條件下快速、準(zhǔn)確地完成測(cè)試任務(wù)，提高了檢測(cè)效率和準(zhǔn)確性。對(duì)于制造商而言，這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強(qiáng)，也是對(duì)品牌信譽(yù)的有力背書(shū)。廣州SIR絕緣電阻測(cè)試哪家好新產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在： 工作速度快、精度高、工況 搭配靈活、測(cè)試電壓可以更 高以適應(yīng)特殊測(cè)試要求。
參考標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-14 試驗(yàn)方法 N：溫度變化中的 Nc。實(shí)現(xiàn)方式為吊籃式，將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同的溫度液體中。則適用于玻璃-?屬密封及類(lèi)似產(chǎn)品，因此電器產(chǎn)品中不予考核該項(xiàng)目。IEC 60068-2-14，Na 以及 ISO 16750-4 5.3.2 冷熱沖擊試驗(yàn)中推薦的循環(huán)數(shù)為 5，實(shí)際應(yīng)用中過(guò)少，推薦使用表 3 參數(shù)。IEC 60068-2-14、ISO 16750-4 、MIL-STD-810F 及 GJB150 中對(duì)于冷熱沖擊的要求循環(huán)數(shù)都為 5 個(gè)循環(huán)以內(nèi)。該三類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此試驗(yàn)的定義為：確定裝備能否經(jīng)受其周?chē)髿鉁囟鹊募眲∽兓?，而不產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降，模擬的情況為：產(chǎn)品的航空運(yùn)輸、航空下投以及其它產(chǎn)品從不同溫度區(qū)域轉(zhuǎn)移的情況。對(duì)于汽車(chē)類(lèi)產(chǎn)品，執(zhí)行此標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，因?yàn)槲覀兛己说哪M情況不一樣，故參數(shù)需要進(jìn)行變動(dòng)，主要變動(dòng)參數(shù)為：循環(huán)數(shù)增加（因應(yīng)用到汽車(chē)電器產(chǎn)品中為加速老化試驗(yàn)，故其循環(huán)數(shù)一般超過(guò) 100）。
作為電子可靠性測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)先鋒，維柯科技深耕SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試與TCT低阻測(cè)試領(lǐng)域逾十年，以“全場(chǎng)景覆蓋、全精度適配”的產(chǎn)品矩陣，為半導(dǎo)體、PCB、新能源等行業(yè)提供一站式測(cè)控解決方案。m作為國(guó)內(nèi)首批自主研發(fā)SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)的企業(yè)，我們以12年技術(shù)積淀打造全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)產(chǎn)品。**模塊采用**恒壓源與超微型電流表設(shè)計(jì)，單通道**控制，精細(xì)捕捉1pA級(jí)電流信號(hào)，電阻測(cè)量范圍覆蓋1×10?Ω至1×10??Ω，精度比較高達(dá)±2%（1×10?-1×10?Ω區(qū)間）。模塊化架構(gòu)支持16通道/模塊靈活擴(kuò)展，單模塊故障*需替換，不影響其他通道運(yùn)行，搭配多任務(wù)并發(fā)測(cè)試功能，可在25天長(zhǎng)期測(cè)試中同步啟動(dòng)新任務(wù)，效率提升300%。數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)、曲線可視化及失效智能提醒，為**電子可靠性測(cè)試提供全流程保障。 電阻測(cè)試不僅是質(zhì)量把控手段，也是研發(fā)階段的重要驗(yàn)證步驟。
在新能源領(lǐng)域，電阻測(cè)試同樣具有廣泛的應(yīng)用前景。新能源設(shè)備如太陽(yáng)能電池板、風(fēng)力發(fā)電機(jī)等，其電子系統(tǒng)和傳感器需要保持高精度和穩(wěn)定性，以確保設(shè)備的運(yùn)行效率和**性。電阻測(cè)試可以驗(yàn)證這些電子系統(tǒng)和傳感器的性能，確保其正常工作。太陽(yáng)能電池板中的電阻測(cè)試主要用于測(cè)量電池板的內(nèi)阻和連接電阻。內(nèi)阻的大小直接影響電池板的輸出效率和穩(wěn)定性，而連接電阻則反映了電池板之間的連接情況。通過(guò)測(cè)量這些電阻值，可以判斷太陽(yáng)能電池板的性能和質(zhì)量，為電池板的優(yōu)化設(shè)計(jì)和維護(hù)提供數(shù)據(jù)支持電阻測(cè)試數(shù)據(jù)應(yīng)詳細(xì)記錄，便于后續(xù)分析與追溯。廣州SIR和CAF電阻測(cè)試原理
根據(jù)阻值設(shè)定，能自動(dòng)判定失效，系統(tǒng)界面提示出現(xiàn)失效出現(xiàn)失效通道。廣州SIR和CAF電阻測(cè)試市場(chǎng)
在PCB/FPC產(chǎn)品的驗(yàn)證過(guò)程中，CAF（導(dǎo)電性陽(yáng)極絲）測(cè)試、SIR（表面絕緣電阻）測(cè)試與RTC（實(shí)時(shí)監(jiān)控或溫度循環(huán)測(cè)試）是三種關(guān)鍵的質(zhì)量控制手段，它們?cè)跍y(cè)試目標(biāo)、方法及重要性上存在***差異。以下是它們的區(qū)別及重要性的綜合分析：一、CAF/SIR測(cè)試與RTC測(cè)試的區(qū)別**1.**測(cè)試目標(biāo)與原理**-**CAF測(cè)試**：主要檢測(cè)PCB內(nèi)部因銅離子遷移導(dǎo)致的導(dǎo)電性陽(yáng)極絲現(xiàn)象。在高溫高濕環(huán)境下，銅離子沿玻纖微裂紋或界面遷移，形成導(dǎo)電細(xì)絲，可能導(dǎo)致短路失效。測(cè)試通過(guò)施加電壓并監(jiān)控絕緣電阻變化，評(píng)估抗電化學(xué)遷移能力。-**SIR測(cè)試**：評(píng)估PCB表面絕緣層的絕緣性能，防止因污染、潮濕或工藝缺陷導(dǎo)致的電流泄漏。通過(guò)施加直流電壓并測(cè)量電阻值，判斷絕緣材料（如阻焊油墨、基材）的可靠性。 廣州SIR和CAF電阻測(cè)試市場(chǎng)
